高精度針孔檢測設(shè)備
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2022-07-13 14:12:47 精質(zhì)視覺
表面質(zhì)量檢測，對于工業(yè)品質(zhì)量控制有著極為重要的意義，也是公司視覺與圖像系統(tǒng)事業(yè)部多年來專注和聚焦的戰(zhàn)略方向。對于表面質(zhì)量檢測，大量的缺陷其物理表現(xiàn)都是表面圖案的改變，如印刷品的疵點、PCB的短路斷路、LCD屏的色斑輝點，檢測這些缺陷最經(jīng)典的方法是通過拍攝的表面圖像進行分析。這種通過平面圖像信息進行缺陷判定是傳統(tǒng)表面質(zhì)量視覺檢測技術(shù)的方法。但是，僅僅局限于二維信息進行質(zhì)量分析，并不能完全滿足產(chǎn)品、工藝的檢測要求。在工業(yè)品表面質(zhì)量檢測中，存在一些對3D信息要求的典型應(yīng)用場景：①表面質(zhì)量檢測中，有一類缺陷是在深度上的變化，如印刷品的劃傷、電子產(chǎn)品的表面劃痕、PCB的導線凹陷等等，而PCB的多銅(短路、銅渣等)和缺銅(斷路、針孔、缺口等)其實也是在深度上有變化。對于深度缺陷，一類檢測方式是通過光源的設(shè)計，增強或削弱其在圖像中表現(xiàn)，這樣將后序的處理納入傳統(tǒng)表面圖像檢測的流程。一類方法是設(shè)法測得深度變化的具體值，即進行表面深度測量;
在某些質(zhì)量檢測場合，產(chǎn)品表面的3D形狀尺寸本身就是質(zhì)量判決的要求和依據(jù)。典型的如表面貼裝、錫膏厚度、產(chǎn)品外觀裝配尺寸等;
有時候我們需要深度信息來幫助判斷，最典型的是LCD檢測中，隔著0.2mm~0.7mm的玻璃，在其上的是可以清除的灰塵，在其下的是真實缺陷。
盡管有大量的三維測量方法和成熟產(chǎn)品，但在表面檢測應(yīng)用中，受精度要求和應(yīng)用條件的限制，仍不存在完全令人滿意的方法，需要根據(jù)具體情況進行選擇。表面檢測應(yīng)用對于三維測量技術(shù)最大的挑戰(zhàn)表現(xiàn)在精度、速度和表面特性的影響。共焦法精度高，但基本只能用于單點測量和核查。結(jié)構(gòu)光和多目視覺的方法面臨的最大困擾是被測對象表面特性的影響，如拋光/鏡面易令結(jié)構(gòu)光法失效，而許多被測產(chǎn)品表面可做為匹配點的紋理匱乏則令雙目、多目設(shè)備無法工作。從精度來說，不同的技術(shù)存在著理論和工程上限。下圖表示了目前幾種典型的非接觸測量方法的精度范圍。
基于三維測量和基于三維信息分析的表面質(zhì)量檢測技術(shù)，是對于傳統(tǒng)表面質(zhì)量視覺檢測的重要補充，并將成為表面質(zhì)量檢測的重要方向。目前仍不存在滿足各種表面檢測要求的通用三維測量技術(shù)。充分應(yīng)用三維測量技術(shù)和器件發(fā)展的成果，并基于應(yīng)用要求和工藝特點，改進和發(fā)展相關(guān)技術(shù)，將滿足日益發(fā)展的檢測要求，有可能極大提升視覺質(zhì)量檢測儀的性能，甚至形成代差性的競爭優(yōu)勢，應(yīng)做為表面檢測領(lǐng)域必須高度重視的技術(shù)方向。
